多種材質(zhì)薄膜電路、厚膜電路、DPC、微帶濾波器、薄膜衰減器、功率熱沉等
整片陶瓷基板、藍膜片、擴晶環(huán)
上料角度自動糾偏
最大支持320*320mm
支持DXF/DWG/GBR圖紙多圖層導入
外形尺寸測量、3D厚度測量、電路尺寸測量、平面缺陷檢測、立體缺陷檢測
可配備500萬像素到6500萬像素范圍相機,根據(jù)檢測需求選型
最小重復精度±1um(根據(jù)所選相機精度會有所不同)
最小可識別精度≥5um(根據(jù)所選相機精度會有所不同)
最小重復精度±50nm
最小可識別精度≥10um(根據(jù)所選相機精度會有所不同)
多圖層算法獨立設置容差+視覺AI深度學習缺陷分類
噴墨打點or激光打標or圖形報告
檢測數(shù)據(jù)實時監(jiān)控、數(shù)據(jù)保存及數(shù)據(jù)統(tǒng)計功能
60s-120s/片(最終效率會根據(jù)檢出缺陷類型、缺陷數(shù)量、產(chǎn)品尺寸而定)
可配備批次/工單/產(chǎn)品等掃碼,及字符OCR識別功能,可增加料倉組件+運動模組or機械手,實現(xiàn)全自動上下料,可選配離線軟件分析功能,可對疊層資料進行整體統(tǒng)計分析