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高速三合一測試設(shè)備

該設(shè)備可適用于微小元件的外觀缺陷檢測，電性能測試及成品包裝。采用標準轉(zhuǎn)塔平臺搭配成熟的分立元件測試 系統(tǒng)，可滿足不同客戶對微小元件的檢測需求。
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被測元件
SLC產(chǎn)品、陣列電容、阻容網(wǎng)絡(luò)、多電極、MLC、多層電容產(chǎn)品

模塊化設(shè)計
高精度模塊設(shè)計搭配日本進口DD馬達確保穩(wěn)定性和高UPH產(chǎn)出

專利夾具
保證測量的穩(wěn)定性及高精度性

運動控制

全伺服電機驅(qū)動，定位精度可達±0.01 mm

電性能測試

成熟視覺搭配AI檢測技術(shù)，CCD自動對焦，助力客戶實現(xiàn)各種缺陷的檢測需求

智能化
人機交互界面友好、多等級操作權(quán)限設(shè)計；配方可一鍵存取、快速切換不同規(guī)格產(chǎn)品；數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)，數(shù)據(jù)統(tǒng)計、圖像和數(shù)據(jù)完全儲存可歷史追溯

Visual Inspection微觀瑕疵 無所遁行

Specifications技術(shù)規(guī)格
操作參數(shù)

  • 上料類型

    振動盤/六英寸藍膜擴晶

  • 最小上機產(chǎn)品尺寸

    10型 0.254mmX0.254mmX0.1mm

  • 下料方式

    散料／藍膜／華夫盒／自粘盒／編帶

視覺系統(tǒng)

  • 視覺算法

    成熟傳統(tǒng)算法框架+AI檢測技術(shù)

  • 外觀檢測

    2面/6面/7面外觀檢測

  • 檢測精度

    識別精度≥10μm

  • 光源模塊

    定制組合光源
電測參數(shù)

  • 并聯(lián)電容Cp

    重復(fù)性精度10pF以上≤±0.3%、10pF以下≤±0.03pF

  • 損耗系數(shù)D

    重復(fù)性精度≤±0.001

  • 絕緣電阻IR

    可測量值＞1TΩ，重復(fù)性精度≤20%

  • 耐壓測試

    可測量值＞1TΩ，重復(fù)性精度≤20%
下料參數(shù)

  • 藍膜

    擺盤角度偏差≤5°、擺盤最小間距0.1mm

  • 華夫盒

    單邊間隔≥0.03mm

  • 擺盤成功率

    ≥97%


規(guī)格

  • 設(shè)備空轉(zhuǎn)UPH

    60K

  • 數(shù)據(jù)系統(tǒng)

    實時數(shù)據(jù)監(jiān)控統(tǒng)計、檢測數(shù)據(jù)保存、導(dǎo)出等功能

  • 輸入電源/壓縮空氣

    三相380V/0.5Mpa±0.1Mpa


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