高速+高精度
大理石框架+直線電機(jī)+線陣相機(jī)
薄膜微波電路視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備
DBC/DPC/AMB視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備
生瓷帶自動(dòng)AOI檢測(cè)機(jī) SC30 搖光
厚膜電路自動(dòng)AOI檢測(cè)機(jī) SC32 玉衡
厚膜電路自動(dòng)AOI檢測(cè)機(jī) SC32 玉衡
大理石平臺(tái)搭配直線電機(jī)，定位精度±1μm
高精度面陣相機(jī)，最小識(shí)別缺陷5μm，尺寸測(cè)量精度±1μm
自研視覺(jué)軟件，支持多圖層算法+AI深度學(xué)習(xí)算法
支持線寬百分比標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)
專業(yè)缺陷分析軟件，可對(duì)歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行合并分析
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兼容性強(qiáng)
可兼容不同基板及印刷導(dǎo)體材質(zhì)的厚膜電路缺陷類型
全伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)
定位精度可達(dá)±1μm
產(chǎn)品導(dǎo)入
支持DXF/DWG/GBR圖紙多圖層導(dǎo)入，不同圖層區(qū)域可設(shè)置不同檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
柔性檢測(cè)
最小識(shí)別缺陷5μm，可自動(dòng)適應(yīng)產(chǎn)品圖形因工藝不同等原因?qū)е碌囊恢滦詥?wèn)題
數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)
具備儲(chǔ)存及分析功能，缺陷分布可導(dǎo)出報(bào)表，對(duì)歷史數(shù)據(jù)合并分析
微觀瑕疵 無(wú)所遁形
微觀瑕疵 無(wú)所遁形
選用國(guó)內(nèi)外知名品牌工業(yè)相機(jī)配合高清鏡頭，通過(guò)高精度造動(dòng)模組精準(zhǔn)采集產(chǎn)品的檢測(cè)面圖像，運(yùn)用自研視覺(jué)檢測(cè)算法將產(chǎn)品的缺陷一一檢出
表面臟污
基板裂紋
表面氧化
表面劃傷
異物粘附
鋸齒毛邊
圖形超限
圖形缺損
尺寸測(cè)量
核心技術(shù)及優(yōu)勢(shì)
大理石框架搭配直線電機(jī)：實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定、高速、高精度；線陣相機(jī)搭配定制遠(yuǎn)心鏡頭：超小的光學(xué)畸變以及高色彩還原度；面陣相機(jī)搭配多種組合光源，實(shí)現(xiàn)多種材質(zhì)產(chǎn)品多種缺陷種類兼容檢測(cè)，自主研發(fā)軟件：支持多圖層算法，線寬百分比缺陷檢測(cè)
技術(shù)規(guī)格
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操作參數(shù)operation parameters
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適用產(chǎn)品
各類基板及印刷導(dǎo)體材質(zhì)的厚膜電路產(chǎn)品
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上料類型
整片陶瓷基板、藍(lán)膜片、擴(kuò)晶環(huán)
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對(duì)位方式
上料角度自動(dòng)糾偏
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有效檢測(cè)范圍
最大支持320*320mm
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標(biāo)準(zhǔn)品導(dǎo)入
支持DXF/DWG/GBR圖紙多圖層導(dǎo)入or合格品匹配
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檢測(cè)內(nèi)容
外形尺寸測(cè)量、印刷厚度測(cè)量、電路尺寸測(cè)量、2D外觀缺陷檢測(cè)、3D外觀缺陷檢測(cè)
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視覺(jué)系統(tǒng)vision system
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2D檢測(cè)相機(jī)配置
可配備500萬(wàn)像素到6500萬(wàn)像素范圍相機(jī)，根據(jù)檢測(cè)需求選型
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2D尺寸測(cè)量精度
最小重復(fù)精度±1um（根據(jù)所選相機(jī)精度會(huì)有所不同）
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2D缺陷檢測(cè)精度
最小可識(shí)別精度5um（根據(jù)所選相機(jī)精度會(huì)有所不同）
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3D厚度測(cè)量精度
最小重復(fù)精度±50nm
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3D缺陷檢測(cè)精度
最小可識(shí)別精度≥10um（根據(jù)所選相機(jī)精度會(huì)有所不同）
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輔助功能Auxiliary functions
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可擴(kuò)展功能
可配備批次/工單/產(chǎn)品等掃碼，及字符OCR識(shí)別功能
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可擴(kuò)展功能
可搭載納米平臺(tái)，提高檢測(cè)精度
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可擴(kuò)展功能
可選配離線軟件分析功能，對(duì)缺陷分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，提供工藝改進(jìn)引導(dǎo)
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可擴(kuò)展功能
可增加料倉(cāng)組件+運(yùn)動(dòng)模組or機(jī)械手，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)上下料
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規(guī)格Specifications
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視覺(jué)算法
多圖層算法獨(dú)立設(shè)置容差+視覺(jué)AI深度學(xué)習(xí)缺陷分類
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不良品標(biāo)記
噴墨打點(diǎn)or激光打標(biāo)or圖形報(bào)告
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數(shù)據(jù)儲(chǔ)存
檢測(cè)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)監(jiān)控、數(shù)據(jù)保存及數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能
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UPH
200（根據(jù)2英寸 50.8mm檢測(cè)范圍計(jì)算）
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檢測(cè)性能
漏檢率=0%
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重量
950KG
