高速+高精度
大理石框架+直線電機(jī)+線陣相機(jī)
薄膜微波電路視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備
DBC/DPC/AMB視覺(jué)檢測(cè)設(shè)備
生瓷帶自動(dòng)AOI檢測(cè)機(jī) SC30 搖光
厚膜電路自動(dòng)AOI檢測(cè)機(jī) SC32 玉衡
生瓷帶自動(dòng)AOI檢測(cè)機(jī) SC30 搖光
大理石平臺(tái)搭配直線電機(jī)，定位精度±0.5μm
高精度線陣相機(jī)，最小識(shí)別缺陷5μm，尺寸測(cè)量精度±1μm
自研視覺(jué)軟件，支持多圖層算法+AI深度學(xué)習(xí)算法
支持線寬百分比標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)
專業(yè)缺陷分析軟件，可對(duì)歷史數(shù)據(jù)進(jìn)行合并分析
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兼容性強(qiáng)
可兼容不同顏色種類材質(zhì)的生瓷帶和印刷漿料
全伺服電機(jī)驅(qū)動(dòng)
定位精度可達(dá)±0.5μm
產(chǎn)品導(dǎo)入
支持DXF/DWG/GBR圖紙多圖層導(dǎo)入，不同圖層區(qū)域可設(shè)置不同檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)
柔性檢測(cè)
最小識(shí)別缺陷5μm，可自動(dòng)適應(yīng)產(chǎn)品圖形因工藝不同等原因?qū)е碌囊恢滦詥?wèn)題
數(shù)據(jù)管理系統(tǒng)
具備儲(chǔ)存及分析功能，缺陷分布可導(dǎo)出報(bào)表，對(duì)歷史數(shù)據(jù)合并分析
微觀瑕疵 無(wú)所遁形
微觀瑕疵 無(wú)所遁形
選用國(guó)內(nèi)外知名品牌工業(yè)相機(jī)配合高清鏡頭，通過(guò)高精度造動(dòng)模組精準(zhǔn)采集產(chǎn)品的檢測(cè)面圖像，運(yùn)用自研視覺(jué)檢測(cè)算法將產(chǎn)品的缺陷一一檢出
孔裂紋測(cè)量
孔凹陷檢測(cè)
空孔檢測(cè)
劃上
圖形中斷
圖形受損
毛邊測(cè)量
線寬、線距測(cè)量
圓心孔測(cè)量
核心技術(shù)及優(yōu)勢(shì)
大理石框架搭配直線電機(jī)：實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定、高速、高精度；線陣相機(jī)搭配定制遠(yuǎn)心鏡頭：超小的光學(xué)畸變以及高色彩還原度；面陣相機(jī)搭配多種組合光源，實(shí)現(xiàn)多種材質(zhì)產(chǎn)品多種缺陷種類兼容檢測(cè)，自主研發(fā)軟件：支持多圖層算法，線寬百分比缺陷檢測(cè)
第十階段
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操作參數(shù)operation parameters
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適用產(chǎn)品
適用于LTCC/HTCC/MLCC等燒結(jié)前的生瓷帶
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有效檢測(cè)范圍
最大支持500mm（可根據(jù)客戶需求定制）
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產(chǎn)品導(dǎo)入
支持DXF/DWG/GBR圖紙多圖層導(dǎo)入or合格品匹配
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檢測(cè)內(nèi)容
印刷圖案的缺陷檢測(cè)、已填孔或未填孔的孔位缺陷檢測(cè)、圖形尺寸測(cè)量、厚度測(cè)量等
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視覺(jué)系統(tǒng)vision system
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2D尺寸測(cè)量相機(jī)
標(biāo)配：16K黑白線陣相機(jī)
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2D尺寸測(cè)量精度
最小重復(fù)精度±1um（根據(jù)所選相機(jī)精度會(huì)有所不同）
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2D缺陷檢測(cè)精度
最小可識(shí)別精度≥5um（根據(jù)所選相機(jī)精度會(huì)有所不同）
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3D厚度測(cè)量精度
最小重復(fù)精度±50nm
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3D缺陷檢測(cè)精度
最小可識(shí)別精度≥10um（根據(jù)所選相機(jī)精度會(huì)有所不同）
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輔助功能Auxiliary functions
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可擴(kuò)展功能
可配備批次/工單/產(chǎn)品等掃碼，及字符OCR識(shí)別功能
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可擴(kuò)展功能
可增加料倉(cāng)組件+運(yùn)動(dòng)模組or機(jī)械手，實(shí)現(xiàn)全自動(dòng)上下料
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可擴(kuò)展功能
可選配離線軟件分析功能，對(duì)缺陷分布進(jìn)行統(tǒng)計(jì)分析，提供工藝改進(jìn)引導(dǎo)
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精度分檔Accuracy grading
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像素精度
1.75μm-7μm
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尺寸測(cè)量 重復(fù)精度
±2μm-±7μm
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最小缺陷 檢出精度
5μm-30μm
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視野寬度
28mm-114mm
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UPH （以200*200mm產(chǎn)品為例）
20-180
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單片拍攝速度 （以200*200mm產(chǎn)品為例）
131s-12s
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規(guī)格Specifications
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視覺(jué)算法
多圖層算法獨(dú)立設(shè)置容差+視覺(jué)AI深度學(xué)習(xí)缺陷分類
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不良品標(biāo)記
噴墨打點(diǎn)or激光打標(biāo)or圖形報(bào)告
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數(shù)據(jù)儲(chǔ)存
檢測(cè)數(shù)據(jù)實(shí)時(shí)監(jiān)控、數(shù)據(jù)保存及數(shù)據(jù)統(tǒng)計(jì)功能
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檢測(cè)性能
漏檢率=0%
